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低溫紅外鏡頭星點(diǎn)檢測(cè)數(shù)據(jù)處理方法研究
在實(shí)驗(yàn)室模擬低溫真空環(huán)境對(duì)紅外鏡頭進(jìn)行星點(diǎn)檢測(cè)時(shí),不能在像面處直接測(cè)得星點(diǎn)光源的像,而是通過在焦面處放置反射鏡使系統(tǒng)二次成像的方法測(cè)得二次成像的彌散斑大小.二次像斑尺寸的變化將能反映出由溫度變化引起的被測(cè)鏡頭焦面處像斑尺寸的變化.通過理論推導(dǎo)得出一次像與二次像彌散斑大小的數(shù)學(xué)關(guān)系,并通過對(duì)不同尺寸星點(diǎn)光源、不同像質(zhì)光學(xué)系統(tǒng)的仿真分析,得出星點(diǎn)檢測(cè)法的檢測(cè)精度與星點(diǎn)孔直徑有關(guān),而與鏡頭本身成像品質(zhì)無關(guān).
作 者: 李妥妥 蘇云 蘭麗艷 Li Tuotuo Su Yun Lan Liyan 作者單位: 北京空間機(jī)電研究所,北京,100076 刊 名: 航天返回與遙感 英文刊名: SPACECRAFT RECOVERY & REMOTE SENSING 年,卷(期): 2008 29(4) 分類號(hào): V4 關(guān)鍵詞: 彌散斑 星點(diǎn)檢驗(yàn) 數(shù)據(jù)處理 低溫光學(xué) 紅外鏡頭 空間環(huán)境模擬【低溫紅外鏡頭星點(diǎn)檢測(cè)數(shù)據(jù)處理方法研究】相關(guān)文章:
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