低溫紅外鏡頭星點(diǎn)檢測(cè)數(shù)據(jù)處理方法研究

時(shí)間:2023-04-27 12:44:07 航空航天論文 我要投稿
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低溫紅外鏡頭星點(diǎn)檢測(cè)數(shù)據(jù)處理方法研究

在實(shí)驗(yàn)室模擬低溫真空環(huán)境對(duì)紅外鏡頭進(jìn)行星點(diǎn)檢測(cè)時(shí),不能在像面處直接測(cè)得星點(diǎn)光源的像,而是通過在焦面處放置反射鏡使系統(tǒng)二次成像的方法測(cè)得二次成像的彌散斑大小.二次像斑尺寸的變化將能反映出由溫度變化引起的被測(cè)鏡頭焦面處像斑尺寸的變化.通過理論推導(dǎo)得出一次像與二次像彌散斑大小的數(shù)學(xué)關(guān)系,并通過對(duì)不同尺寸星點(diǎn)光源、不同像質(zhì)光學(xué)系統(tǒng)的仿真分析,得出星點(diǎn)檢測(cè)法的檢測(cè)精度與星點(diǎn)孔直徑有關(guān),而與鏡頭本身成像品質(zhì)無關(guān).

低溫紅外鏡頭星點(diǎn)檢測(cè)數(shù)據(jù)處理方法研究

作 者: 李妥妥 蘇云 蘭麗艷 Li Tuotuo Su Yun Lan Liyan   作者單位: 北京空間機(jī)電研究所,北京,100076  刊 名: 航天返回與遙感  英文刊名: SPACECRAFT RECOVERY & REMOTE SENSING  年,卷(期): 2008 29(4)  分類號(hào): V4  關(guān)鍵詞: 彌散斑   星點(diǎn)檢驗(yàn)   數(shù)據(jù)處理   低溫光學(xué)   紅外鏡頭   空間環(huán)境模擬  

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