借助光柵測譜中高級次譜判斷強激光場作用時的有效功率密度

借助光柵測譜中高級次譜判斷強激光場作用時的有效功率密度

借助在X光波段高次諧波輻射譜測量過程中,根據單色儀光柵分光的作用,產生的23級次(34.56 nm)諧波譜的二級次譜(69.13 nm)的出現(xiàn)與否,判斷了實驗獲得高次諧波譜的截止波長;從而根據高次諧波的理論,判斷了強激光場與物質相互作用時,激勵產生X光譜的有效功率密度為1.007×1014 W/cm2,此時獲得最大光子能量為32.817 eV.它的準確判斷和測量是研究實驗獲得譜線的來源和強度的基礎數(shù)據.

作 者： 陳建新 王騏 夏元欽   作者單位： 哈爾濱工業(yè)大學光電子技術研究所,可調諧激光技術國家級重點實驗室,黑龍江,哈爾濱,150001  刊 名： 中國激光  ISTIC EI PKU 英文刊名： CHINESE JOURNAL OF LASERS  年，卷(期)： 2003 30(3)  分類號： O437.1  關鍵詞： 激光物理   光柵分光   高級次譜   測試系統(tǒng)  

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