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RTK測(cè)量高程精度探討
通過(guò)RTK技術(shù)在海陽(yáng)市城區(qū)控制測(cè)量中應(yīng)用,分析了校正參數(shù)的求取方法及影響參數(shù)精度的因素;從觀測(cè)精度、基準(zhǔn)轉(zhuǎn)換參數(shù)精度和基準(zhǔn)站控制點(diǎn)精度三方面入手,闡述了提高RTK高程的具體措施;并通過(guò)對(duì)高程精度和高差精度兩方面進(jìn)行分析,得出RTK高程測(cè)量的精度能夠達(dá)到四等水準(zhǔn)測(cè)量精度要求的結(jié)論.
作 者： 徐萬(wàn)祥 柴本紅 侯永平 XU Wan-xiang CHAI Ben-hong HOU Yong-ping 作者單位： 徐萬(wàn)祥,柴本紅,XU Wan-xiang,CHAI Ben-hong(山東省第四地質(zhì)礦產(chǎn)勘查院,山東,濰坊,261021)侯永平,HOU Yong-ping(壽光市建設(shè)局測(cè)繪辦,山東,濰坊,262700)
刊 名： 地礦測(cè)繪 英文刊名： SURVEYING AND MAPPING OF GEOLOGY AND MINERAL RESOURCES 年，卷(期)： 2009 25(2) 分類號(hào)： P228.4 P216 關(guān)鍵詞： RIX 高程 高差 校正參數(shù) 精度分析【RTK測(cè)量高程精度探討】相關(guān)文章：
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