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電磁輻射環(huán)境的潛在致突變水平
通過蠶豆根尖細胞微核試驗,對微波通信基站和廣播電臺周圍環(huán)境電磁輻射水平進行監(jiān)測,了解了不同電磁輻射強度與蠶豆根尖細胞微核率之間的關系.指出較強電磁輻射水平對蠶豆根尖微核率的形成具有顯著影響,電磁輻射環(huán)境可能存在潛在的致突變危險.建議國家有關部門應盡快對有關場所中的電磁輻射環(huán)境,以及對公眾健康影響的問題作深入研究,制定可操作性法規(guī),并明確界定有關場所可執(zhí)行的標準,使建筑物高層電磁輻射環(huán)境污染得到有效地控制和管理.
作 者: 朱大明 年冀 何志輝 張松川 ZHU Da-ming NIAN Ji HE Zhi-hui ZhANG Song-chuan 作者單位: 廣州市環(huán)境監(jiān)測中心站,廣東,廣州,510030 刊 名: 環(huán)境監(jiān)測管理與技術 ISTIC PKU 英文刊名: THE ADMINISTRATION AND TECHNIQUE OF ENVIRONMENTAL MONITORING 年,卷(期): 2005 17(1) 分類號: X837 關鍵詞: 電磁輻射 致突變水平 蠶豆根尖細胞 微核試驗【電磁輻射環(huán)境的潛在致突變水平】相關文章:
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