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基于GPS數(shù)據(jù)確定電離層延遲的蝕因子法
通過建立電離層交叉點(diǎn)(ionospheric pierce point,IPP)點(diǎn)的電離層蝕因子(ionospheric eclipse factor,IEF)λ及其影響因子(ionospheric influence factor,IFF)-λ,綜合λ,-λ與IPP點(diǎn)的地方時(shí)t,研究了一種利用GPS數(shù)據(jù)確定電離層延遲的新方法--電離層蝕因子法(ionospheric eclipse factor method,IEFM).IEFM方法強(qiáng)調(diào)根據(jù)電離層的變化特性選擇合理的TEC模型.初步結(jié)果表明,利用IEFM擬合的電離層延遲的改正精度更接近L3觀測(cè)自校正電離層延遲的精度.
作 者: 袁運(yùn)斌 歐吉坤 作者單位: 中國(guó)科學(xué)院測(cè)量與地球物理研究所,動(dòng)力大地測(cè)量學(xué)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,武漢,430077 刊 名: 自然科學(xué)進(jìn)展 ISTIC PKU 英文刊名: PROGRESS IN NATURAL SCIENCE 年,卷(期): 2005 15(3) 分類號(hào): 關(guān)鍵詞: 全球定位系統(tǒng)(GPS) 電離層延遲 電子總含量(TEC) 電離層蝕因子法【基于GPS數(shù)據(jù)確定電離層延遲的蝕因子法】相關(guān)文章:
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