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航空電子設(shè)備故障診斷技術(shù)研究綜述
隨著電子技術(shù)的發(fā)展,電子設(shè)備組成的復雜化和智能化不斷提高,IC芯片制造工藝的不斷提高使得VLSI電路的集成密度增加,亦加大了電路故障測試的復雜性和困難度.本文綜述了電子電路的通用測試方法和技術(shù),并分析了局限性.詳細敘述了剛剛發(fā)展起來的基于知識的故障診斷方法,它的應(yīng)用使對于一個較復雜的電子設(shè)備進行準確故障診斷成為可能,并對其發(fā)展進行了探討和展望.
作 者: 安治永 李應(yīng)紅 蘇長兵 AN Zhi-yong LI Ying-hong SU Chang-bing 作者單位: 空軍工程大學工程學院一系,西安,710038 刊 名: 電光與控制 ISTIC PKU 英文刊名: ELECTRONICS OPTICS & CONTROL 年,卷(期): 2006 13(3) 分類號: V243 關(guān)鍵詞: 可測性設(shè)計 內(nèi)建自測試 故障診斷 神經(jīng)網(wǎng)絡(luò) 信息融合 復雜電子系統(tǒng) 非線性【航空電子設(shè)備故障診斷技術(shù)研究綜述】相關(guān)文章:
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