高分辨X射線衍射研究雜質對晶體結構完整性的影響

高分辨X射線衍射研究雜質對晶體結構完整性的影響

用水溶液生長晶體的方法生長出了不同摻雜的Sr(NO3)2晶體.用電子探針研究了雜質在晶體中的分布情況.結果表明,雜質在晶體中存在扇形分凝,其中Ba在{100}扇形區(qū)的含量大于{111}扇形區(qū),而Pb的分凝情況相反,在{111}扇形區(qū)的含量大于{100}扇形區(qū).用高分辨X射線衍射搖擺曲線技術研究了純的、摻Ba的和摻Pb的Sr(NO3)2晶體的完整性情況,并用X射線衍射動力學理論計算了完整Sr(NO3)2晶體的高分辨X射線衍射搖擺曲線.結果表明純Sr(NO3)2晶體的完整性很高,在扇形區(qū)內的搖擺曲線與理論計算結果很接近,但在扇形區(qū)的邊界由于應力的存在而使得完整性有所降低.摻雜會降低Sr(NO3)2晶體的質量,并使得晶體完整性在不同的生長扇形區(qū)不一致.摻Ba的Sr(NO3)2晶體,其結構完整性在{111}生長扇形區(qū)比{100}生長扇形區(qū)高,而摻Pb的Sr(NO3)2晶體則相反,{100}生長扇形區(qū)的質量高于{111}生長扇形區(qū),這與它們的扇形分凝特征一致.

作 者： 李超榮 吳立軍 陳萬春   作者單位： 李超榮,陳萬春(中國科學院國家微重力實驗室,北京,100080;中國科學院物理研究所,北京,100080)

吳立軍(中國科學院物理研究所,北京,100080) 

刊 名： 物理學報  ISTIC SCI PKU 英文刊名： ACTA PHYSICA SINICA  年，卷(期)： 2001 50(11)  分類號： O4  關鍵詞： 高分辨X射線衍射   雜質   水溶液晶體生長  

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