非對等FOV作用下的高分辨率FTIRS儀器線型函數(shù)研究

時(shí)間:2023-05-07 04:30:42 數(shù)理化學(xué)論文 我要投稿
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非對等FOV作用下的高分辨率FTIRS儀器線型函數(shù)研究

摘要:視場角(FOV)是僅次于最大光程差、決定高分辨率傅里葉紅外光譜儀(FTIRS)儀器線型函數(shù)(ILS)的重要因素.由于光學(xué)設(shè)計(jì)和裝調(diào)原因,理論為圓形FOV的擴(kuò)散光束,到達(dá)探測器端時(shí),其水平和垂直方向上的FOV值往往不再嚴(yán)格對等.對此,提出了以橢圓形面光源取代傳統(tǒng)文獻(xiàn)中的圓形面光源來反映這種非對等性,并結(jié)合最大光程差參數(shù),給出了非對等FOV作用下的高分辨率FTIRS儀器線型函數(shù)的數(shù)學(xué)和圖形表述.通過比較高分辨率FTIRS實(shí)測CO標(biāo)氣獲得的光譜,與非對等FOV、對等FOV作用下的理論光譜,發(fā)現(xiàn)非對等FOV作用下的理論譜與實(shí)測譜的差譜RMS值較對等FOV獲得的差譜RMS值更小,在最大吸收峰附近的差譜變化更為平緩.表明了這種非對等FOV作用下的ILS函數(shù),較對等FOV作用下的ILS函數(shù)能更精確的反映高分辨率FTIRS對譜線的真實(shí)響應(yīng). 作者: 任利兵  尉昊赟  張亞  李巖 Author: REN Li-bing  WEI Hao-yun  ZHANG Ya  LI Yan 作者單位: 清華大學(xué)精密儀器與機(jī)械學(xué)系,精密測試技術(shù)及儀器國家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,北京100084 期 刊: 光譜學(xué)與光譜分析   ISTICEISCIPKU Journal: Spectroscopy and Spectral Analysis 年,卷(期): 2011, 31(12) 分類號: O657.3 關(guān)鍵詞: 非對等視場角    傅里葉紅外光譜儀    儀器線型函數(shù)    高分辨率    機(jī)標(biāo)分類號: D92 O4 機(jī)標(biāo)關(guān)鍵詞: 非對等性    較高分辨率    儀器    線型函數(shù)    Field of View    Fourier Transform Infrared    Shape function    傅里葉紅外光譜儀    面光源    理論    光程差    差譜    最大吸收峰    ILS    重要因素    圖形表述    實(shí)測譜    光學(xué)設(shè)計(jì)    垂直方向    橢圓形 基金項(xiàng)目: 國家自然科學(xué)基金,中德科學(xué)基金合作項(xiàng)目 非對等FOV作用下的高分辨率FTIRS儀器線型函數(shù)研究[期刊論文]  光譜學(xué)與光譜分析 --2011, 31(12)任利兵  尉昊赟  張亞  李巖視場角(FOV)是僅次于最大光程差、決定高分辨率傅里葉紅外光譜儀(FTIRS)儀器線型函數(shù)(ILS)的重要因素.由于光學(xué)設(shè)計(jì)和裝調(diào)原因,理論為圓形FOV的擴(kuò)散光束,到達(dá)探測器端時(shí),其水平和垂直方向上的FOV值往往不再嚴(yán)格對等.對此...

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