用電子散斑干涉法進行結(jié)構(gòu)內(nèi)部微小缺陷檢測的研究

用電子散斑干涉法進行結(jié)構(gòu)內(nèi)部微小缺陷檢測的研究

本文應用電子散斑干涉法和相移技術(shù)對結(jié)構(gòu)內(nèi)部缺陷測試進行了試驗研究,研究中采用氣壓加載,獲得了相同氣壓載荷作用下不同試件的變形圖,由此計算得到的結(jié)果表明,有缺陷的試件和無缺陷的試件在相同的氣壓載荷作用下變形不同,同時,相同載荷作用下,缺陷尺寸不同時,試件的變形不同.該試驗證明了電子散斑干涉法在研究結(jié)構(gòu)內(nèi)部缺陷在氣壓載荷作用下的微小變形的有效性,進一步對缺陷影響的定量研究將為預知缺陷的尺寸及位置,結(jié)構(gòu)的安全和檢測提供幫助,同時將該方法應用進一步的推廣和改進,將為結(jié)構(gòu)無損檢測提供依據(jù).

作 者： 楊國標 吳愧 章彰 陸鵬 YANG Guo-biao WU Kui ZHANG Zhang LU Peng   作者單位： 楊國標,吳愧,章彰,YANG Guo-biao,WU Kui,ZHANG Zhang(同濟大學,航空航天與力學學院,上海,200092)

陸鵬,LU Peng(中船重工711研究所,上海,200433) 

刊 名： 力學季刊  ISTIC PKU 英文刊名： CHINESE QUARTERLY OF MECHANICS  年，卷(期)： 2008 29(3)  分類號： O348.11  關鍵詞： 電子散斑干涉   氣體壓力   微小變形   缺陷檢測   相移技術(shù)  

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